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    直流有刷電機測試解決方案壓縮機電機定子測試解決方案

    電樞轉(zhuǎn)子測試原理

      作者:艾普智能點擊:7407發(fā)布時間:2022-07-07 08:06:37

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    電樞一般指電機裝有線圈需要外接電源的部分,在電機中進行機械能和電能相互轉(zhuǎn)換的部件。電樞轉(zhuǎn)子是直流電機的組成部分之一,其主要由電樞鐵芯、電樞繞組、換向器、轉(zhuǎn)軸和風扇等組成。

    電樞轉(zhuǎn)子測試原理是根據(jù)電磁感應(yīng)原理,應(yīng)用電子示波技術(shù),將在恒定磁場旋轉(zhuǎn)的電樞產(chǎn)生的電磁信號經(jīng)過特殊處理,在顯示器上顯示出檢測波形,通過對波形的觀察分析蒙準確判定電樞轉(zhuǎn)子的好壞及故障位置。

    電樞轉(zhuǎn)子測試原理-艾普智能.png

    本文從電樞轉(zhuǎn)子測試項目及電樞轉(zhuǎn)子測試原理應(yīng)用等兩方面詳細介紹下電樞轉(zhuǎn)子測試原理。


    一、電樞轉(zhuǎn)子測試項目

    想知道電樞轉(zhuǎn)子測試原理,首先要知道電樞轉(zhuǎn)子測什么。

    在電樞轉(zhuǎn)子生產(chǎn)過程中線圈抽頭至換向片的虛焊問題較為普遍,由此引發(fā)的質(zhì)量隱患通常肉眼無法分辨,在后續(xù)的裝機出廠使用時裝載不良電樞轉(zhuǎn)子的電機隨時會發(fā)生局部發(fā)熱、斷線等故障導(dǎo)致電機燒毀。因此建議出廠前對電樞轉(zhuǎn)子進行系統(tǒng)測試,剔除不良轉(zhuǎn)子,保證出廠產(chǎn)品質(zhì)量合格。

    當然,除上述質(zhì)量問題外,電樞轉(zhuǎn)子測試也會同時測試直流電機電樞轉(zhuǎn)子的電氣性能,其中主要是各類電阻和耐壓。電樞轉(zhuǎn)子因其特殊的結(jié)構(gòu),除常規(guī)的絕緣電阻外,還需要對電樞轉(zhuǎn)子中各個換向片的片間電阻、跨間電阻和焊接電阻進行測試。

    電樞轉(zhuǎn)子中的焊接電阻測試就是針對虛焊現(xiàn)象設(shè)置的,目前行業(yè)內(nèi)較為認可的觀點是:焊接電阻超過100μΩ時即可認為其焊接不良或虛焊。因此在電樞轉(zhuǎn)子測試系統(tǒng)設(shè)置參數(shù)時將其設(shè)置為邊界值,若測試結(jié)果大于100μΩ時,實際測試數(shù)據(jù)標紅顯示,測試界面顯示NG,說明測試中的電樞轉(zhuǎn)子出現(xiàn)虛焊現(xiàn)象,不能出廠。

    電樞轉(zhuǎn)子測試原理-艾普智能.jpg

    二、電樞轉(zhuǎn)子測試原理應(yīng)用

    用電樞轉(zhuǎn)子測試系統(tǒng)對電樞轉(zhuǎn)子測試是很簡單的,因為具體的測試原理已經(jīng)融入到測試系統(tǒng)的主機和工裝中。

    針對電樞轉(zhuǎn)子的特殊結(jié)構(gòu),艾普智能研制電樞轉(zhuǎn)子專用工裝臺,可實現(xiàn)電樞轉(zhuǎn)子自動夾裝,減少人工操作時間,提高測試效率。

    電樞轉(zhuǎn)子測試原理-艾普智能.jpg

    1、左圖所示:電樞轉(zhuǎn)子夾頭工裝命名規(guī)則為:φ23為電樞轉(zhuǎn)子換向器直徑,18P為電樞轉(zhuǎn)子換向器片數(shù);

    2、右圖所示:放置被測電樞轉(zhuǎn)子時,需確保箭頭1位置位于電樞轉(zhuǎn)子換向器中心,可通過調(diào)整箭頭2旋轉(zhuǎn)底座角度實現(xiàn)。

    只要測試人員將電樞轉(zhuǎn)子安置在工裝臺上,根據(jù)實際需要用滑罩、按鍵或遙控的方式啟動測試系統(tǒng),即可直接得到想要的測試數(shù)據(jù)及測試曲線。

    電樞轉(zhuǎn)子測試原理-艾普智能.jpg

    可明顯在上方圖片上看出,測試電樞有10個換向片,左側(cè)狀態(tài)欄依次顯示片間電阻、焊接電阻及跨間電阻的各換向片數(shù)據(jù)及合格范圍單位;右側(cè)狀態(tài)欄顯示軸線耐壓、鐵線耐壓、絕緣電阻和匝間測試各項數(shù)據(jù);最下方顯示測試曲線,此次電樞轉(zhuǎn)子測試可5s一次性得到全部測試結(jié)果,性價比超高。


    本文簡述了電樞轉(zhuǎn)子測試原理,艾普智能專注全球電機測試,更多電樞轉(zhuǎn)子測試系統(tǒng)方案于主頁中,如對電樞轉(zhuǎn)子有其他疑問可隨時聯(lián)系在線客服,更多電機測試內(nèi)容將持續(xù)更新,歡迎來電詳詢!


    本文由專注全球電機測試的艾普智能原創(chuàng)編寫,版權(quán)所有,侵權(quán)必究,轉(zhuǎn)載請注明出處。


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